Aoki Y., Saito T., Yagi M., Ishiyama A., Wang X., Ueda H., Machi T., Fujiwara N., Arai M., Momotari H.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, overheating, pulsed current, degradation studies, thermal stress, IBAD process, TFA-MOD process, mechanical properties
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.